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第十七届国际集成电路研讨会暨展览会--展会新闻

测试测量将成IIC 2012新看点

    在欧洲、美国、日本,人们对产品的品质要求决定了测试测量技术的重要性。随着中国消费力的提升,人们对质量的要求会越来越高,制造商对测试技术的需求亦将越来越迫切,量测技术在中国有很大的发展空间。
    因此,IIC-China在2012年除了带来最新的IC产品和应用技术外,亦将汇....

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第十七届“国际集成电路研讨会暨展览会”将于明年二月在深举行

    ARM中国总裁吴雄昂将围绕“未来智能手机的演化进程”这议题发表主题演讲
    由环球资源举办的第17届 “国际集成电路研讨会暨展览会”(International IC-China Conference &Exhibit....

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